Эффективный метод определения задержки при производстве цифровых микросхем
Описан метод оценки временных задержек в ИС на КМОП-структурах, имеющих разброс в условиях производства, основанный на использовании процедуры статистических выборок Монте Карло. Представлены зависимости времени задержки от размещения соединительных проводников, связывающих элементы схемы, размещенных на одном кристалле или связывающих выводы нескольких кристаллов. Полученные теоретические зависимости дают возможность построения кривых распределения с оптим. выбором критических путей распространения импульсных сигналов. Приведены кривые распределения задержек, рассчитанные с применением пакета прикладных программ для расчета цепей SPICE.
Ключевые слова: теория цепей

